| Розничная цена без НДС | Оптовая цена без НДС | Срок поставки | |
|---|---|---|---|
| по запросу | по запросу | под заказ |
Микроскоп электронный сканирующий Himera DB50 c ионным пучком FIB SEM, катод Шоттки, напольный
Микроскоп электронный сканирующий Himera DB50 c ионным пучком FIB SEM, катод Шоттки, напольный -двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией и ионной колонной позволяет проводить наноанализ и пробоподготовку одновременно. Усовершенствованная технология туннелирования электронного пучка (SuperTunnel) и конструкции объективных линз свободная от магнитных полей, позволяет получать нанометровое разрешение при низких ускоряющих напряжениях. Ионная колонна со стабильным жидким Ga+ источником позволяет подготавливать качественные кросс- секции и образцы для исследования в трансмиссионном электронном микроскопе ТЭМ. Большое количество внешних портов для подключения аналитических приставок, микроманипуляторов, системы подачи газа, системы анти-контаминации делают прибор незаменимым для продвинутых исследовательских задач.
- Высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях
- Ионная колонна для подготовки ТЭМ ламелей
- Электромагнитный модульный объектив с отсутствием аберраций улучшает возможность получения изображений при низких укоряющих напряжениях и позволяет работать с намагниченными образцами
- Высоковольтная технология туннелирования (SuperTunnel) улучшает разрешение при низком ускоряющем напряжении, благодаря возможности поддерживать высокую энергию пучка без накопления пространственного заряда
Технические характеристики:
|
Разрешение электронной колонны |
1,2 нм при 15 кВ |
|
Разрешение ионной колонны |
3 нм при 30 кВ |
|
Ускоряющее напряжение электронной колонны |
20 В — 30 кВ |
|
Ускоряющее напряжение ионной колонны |
500 В — 30 кВ |
|
Детекторы |
Эверхарт-Торнли (ETD) Внутрилинзовый Inlense SE детектор вторичных электронов |
|
Опционально: Детектор обратно-рассеянных электронов (BSED), STEM детектор для работы на «просвет», EDS, EBSD, шлюз, наноманипулятор, трэкбол, система анти-контаминации Plasma cleaner, система подвода газа, панель управления основными настройками и др. | |
|
Вакуумная система |
Полностью автоматическая, безмасляная |
|
Камера |
Навигационная камера |
|
ИК-камера — 2 шт. | |
|
ПО |
Автоматическая яркость/контраст, автофокус, автостигматор |
|
Столик образцов |
5-ти осевой эвцентрический |
|
Диапазон перемещений |
X: 110 мм |
|
Y: 110 мм | |
|
Z: 65 мм | |
|
R: 360° | |
|
T: -10° ~ +70° |
Вы можете купить микроскоп электронный сканирующий c ионным пучком FIB SEM Himera DB50, катод Шоттки, напольный в Москве в компании Лабтех по наименьшей цене.