Электронные микроскопы сканирующие (СЭМ) напольные Dr.Focal представлены СЭМ трех моделей с широким спектром опций. Среди микроскопов присутствуют решения с технологией низкого вакуума, в качестве источника электронов выступают как практичные вольфрамовые катоды, так и обладающие большей концентрацией энергии полевые катоды (катоды Шоттки).
Максимально достижимое увеличение микроскопов составляет 600 000х, а разрешение составляет до 1,5 нм.
В линейке представлены микроскопы габаритами внутренних камер до 170 мм, а также моторизованными 5-осевыми приводами перемещения с диапазонами линейных перемещений до 80 мм, а угловых — до 90º.
Для обеспечения лучшего качества изображения в режимах детектирования вторичных электронов (SE) и энерго-дисперсионного спектрометра (EDS) предусмотрены различные апертуры электронной оптики.
|
Модель |
Увеличение |
Тип катода |
Разрешение, напряжение |
Низкий вакуум |
Макс. размер образца |
Привод столика |
|
YPSILON |
500 000х |
Полевой |
1,5 нм @ 30 кВ |
Нет |
170 мм |
5 осей , мотори-зованные |
|
KAPPA |
600 000х |
Вольфрам |
3 нм @ 30 кВ |
Да |
170 мм | |
|
GAMMA |
600 000х |
Вольфрам |
3 нм @ 30 кВ |
Нет |
170 мм |
Микроскопы совместимы и могут быть поставлены со всеми видами используемых детекторов Oxford, Bruker, EDAX:
- Вторичных электронов (SE);
- Обратно-рассеянных электронов (BSE);
- Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS);
- Волно-дисперсионный спектрометр (WDS);
- Катод-люминисцентный (CL);
- Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (STEM);
- Тока эмитированного электронным лучом (EBIC);
- Дифракции обратно-рассеянных электронов (EBSD);
Для проведения эффективных исследований возможно оснащение рабочей зоны микроскопа специальными столиками для охлаждения, нагрева, растяжения, сжатия и проведения микроманипуляций с образцами в процессе исследования.
Лабтех предоставляет гарантию на все сканирующие электронные микроскопы Dr.Focal, а также сервис и послепродажное обслуживание. В ассортименте Лабтех присутствуют все необходимые аксессуары и расходные материалы для проведения исследований на сканирующих и просвечивающих электронных микроскопах, в том числе:
- Напыление токопроводящих покрытий;
- Сеточки для образцов ПЭМ (TEM);
- Боксы для хранения сеточек;
- Столики (стабы) для образцов СЭМ (SEM);
- Системы хранения столиков (стабов);
- Манипуляторы для столиков, сеточек и образцов;
- Калибровочные образцы для СЭМ (SEM) и ПЭМ (TEM);
- Токопроводящие пленки и составы;
- Фиксация образцов (смолы, формы, зажимы, дегазаторы);
- Приспособления для нарезки биообразцов (алмазные ножи, стекла);
- Приспособления для криоподготовки;
- Решения для резки/шлифовки/полировки образцов;
Возможно проведение демонстрационных исследований с образцами заказчика.
Стоимость — по запросу, средний срок поставки 3-4 месяца.
Вы можете купить электронный сканирующий микроскоп (СЭМ, SEM) в Москве в нашей компании по наименьшей цене