Калибровочные образцы для СЭМ (SEM) и ПЭМ (TEM)

Образцы для калибровки

Компания Лабтех поставляет эталонные образцы для калибровки эксплуатационных показателей электронных микроскопов. В ассортименте компании представлены образцы для просвечивающих и сканирующих электронных микроскопов Zeiss, FEI, Tescan, Hitachi, Jeol, корейских и китайских производителей. При наличии специализированных запросов мы подберем альтернативные решения, пожалуйста обращайтесь за консультацией. 

Цены указаны при условии объема единовременной закупки на сумму не менее 350 тыс. руб. включая НДС 20%.

Наименование Розничная цена без НДС Оптовая цена без НДС Срок поставки
Образец для калибровки монокристалла кремния
LM55041
по запросу по запросу   под заказ
Образец для калибровки сферы из латекса
LM55040
по запросу по запросу   под заказ