Карта сайта
Поиск:
Корзина:

Дифрактометр рентгеновскийX PERT PRO PANanalytical

Информация для заказа
Наименованиеед.Наименьшая оптовая цена
(без НДС)
Оптовая партияРозничная цена
(без НДС)
НДСКоличество
Дифрактометр рентгеновскийX PERT PRO PANanalyticalпо запросу по запросу 
Описание
Дифрактометр рентгеновскийX PERT PRO PANanalytical
Дифрактометр рентгеновскийX PERT PRO PANanalytical  модульной конструкции для научных исследований и аналитического контроля в промышленности. Большое разнообразие возможных конфигураций и дополнительных устройств обеспечивают универсальность этого прибора при решении всего круга задач порошковой рентгеновской дифрактометрии.

Описание PERT PRO:
 
- Варианты гониометров: q - q и q - 2q
вертикальные и горизонтальные, нормального и высокого разрешения
- Возможность установки рентгеновского зеркала и монохроматора высокого разрешения
- Высокоточная система прямого оптического отслеживания позиции гониометра (DOPS)
- Фабричная калибровка оптических модулей и держателей образцов обеспечивает их смену без дополнительной подстройки
- Использование уникальных рентгеновских трубок
- Применение быстродействующих детекторов.
 
Существуют две модели дифрактометров X PERT PRO. В многоцелевой модели дифрактометра MPD (Multi-Purpose Diffractometer) используется гониометр нормального разрешения, выполненный для работы по оптической оси, расположенной как в вертикальной, так и в горизонтальной плоскости. В модели многоцелевого дифрактометра исследовательского типа MRD (Multi-Purpose Research Diffractometer) используется только горизонтальный гониометр высокого разрешения.
 
Рентгеновские трубки PANalytical запатентованной конструкции. Их высокоточное производство не имеет аналогов. Уникальным является то, что в одной трубке возможно использование различных фокусировок рентгеновского пучка. Трубку, имеющую четыре выходных окна, можно повернуть в кожухе, не отключая охлаждающую воду и не нарушая оптическую юстировку. Это позволяет выполнять на одном дифрактометре фазовый анализ порошковых материалов, используя линейный фокус рентгеновской трубки, и анализ текстур, стрессов и микродифрак- ционные исследования при точечном фокусе. Смена фокуса трубки, либо замена на трубку с другим анодом, выполняется всего за 10 минут, после чего переюстировка оптической оси не требуется.
 
Новейшая технология детектирования рентгеновского излучения - широкодиапазонное измерение в режиме реального времени (RTMS), воплощена в новом быстродействующем твердотельном детекторе X'Celerator, который состоит из ряда параллельно соединенных детекторов, что, в некоторых случаях, обеспечивает 100-кратное увеличение эффективности регистрации по сравнению с традиционными счетчиками. Это позволяет снизить время измерения в полном диапазоне углов с двух часов до нескольких минут без ухудшения разрешения. В 2006 году фирма PANalytical начала выпуск детектора PIXcel. Это твердотельный детектор 2-го поколения, разработанный как для традиционных, так и для специальных задач рентгеновской дифрактометрии. Детектор PIXcel состоит из 65 тысяч чувствительных элементов (пикселей), размер каждого из которых составляет 55 x 55 микрон. Все чувствительные элементы имеют индивидуальные циклы счетной загрузки, что обеспечивает огромный динамический диапазон счета (более 25 миллионов импульсов в секунду для каждой линии пикселей), поэтому использование детектора PIXcel не требует установки аттенюатора. Применение детектора PIXcel в комбинации с монохроматором обеспечивает запись дифрактограмм с непревзойденным отношением пик/фон. Дифрактометры X'PERT PRO также оснащаются и традиционными детекторами: пропорциональный, сцинтилляционный, позиционно-чувствительный.
 
Конфигурации дифрактометра при решении типичных задач. результаты измерений:
 
Поликристаллические материалы с плоской поверхностью. Измерения в отраженном пучке. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ остаточных напряжений материалов. Парафокусирующая схема Брэгга-Брентано, фиксированные или программируемые щели, традиционный точечный детектор или X'Celerator.
 
Поликристалличесие материалы с шероховатой поверхностью, либо образцы прозрачные для рентгеновского излучения, также деформируемые образцы. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ остаточных напряжений материалов. Возможен анализ при изменении состояния образца.
Поликристаллические материалы. Измерения в просвечивающем пучке. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ текстуры. Исследование рентгено-прозрачных образцов. Малоугловые измерения.
 
Поликристаллические материалы в капиллярном держателе. Идентификация фаз и кристаллографические исследования малых количеств вещества, а также анализ образцов, которые структурируются при других способах подготовки пробы.
 
Тонкие пленки, покрытия, напыления. Измерение толщины слоев, плотности и качества поверхностей раздела с использованием отражения первичного (квази-) параллельного облучающего пучка. Для анализа слоев толще 100 нм возможно использование гибридного монохроматора.
 
Тонкие пленки, покрытия, напыления. Идентификация фаз с увеличенной поверхностной чувствительностью, повышенная глубина анализа при работе с многослойными образцами. Возможно применение рентгеновского зеркала.
 
Тонкие пленки, покрытия, напыления. Определение качества, толщины и единообразия высокоупорядоченных и эпитаксиальных слоев, участков повышенной напряженности. Определение степени совершенства кристаллов. Картирование в обратном пространстве при перемещении образца по кривым качения.
Конструкционные материалы. Анализ остаточных напряжений и стрессов. Анализ текстуры проводят при одновременном наклоне и вращении образца. Рентгеновская линза позволяет работать с шероховатыми и не плоскими образцами и достигать наибольших углов наклона для получения наилучших результатов.
Микро пробы и точечные участки образцов. Идентификация фаз образцов очень малого размера или анализ отдельных точек гетерогенных образцов. Микродифракция.
 
Опросный лист:
 
Для получения коммерческого предложения на дифрактометр необходимо предоставить список ответов на следующие вопросы:
1) Каковы объекты исследований?
     - порошки
     - полупроводниковые структур
     - тонкие плёнки и т.д.
2) Размер и форма исследуемых объектов?
3) Какой анод трубки?
    - Co
    - Cu
    - Cr
4) Требования к гониометру:
     - вертикальный или горизонтальный?
     - радиус гониометра?
     - минимальный шаг гониометра?
     - точность установки угла?
5) Какие виды исследований будут проводиться?
    - фазовый анализ количественный и качественный
    - уточнение параметров кристаллической решетки
    - исследования тонких пленок
    - исследование остаточных напряжений
    - исследование текстуры
    - исследование размеров кристаллитов
    - исследование кривых качания
    - эпитаксиальные исследования
    - картирование в обратном пространстве и т.д.
6) Будут проводиться измерения при высоких /низких температурах или при повышенной влажности?
7) Требования к детектору?
    - быстродействующий твердотельный PIXcel
    - X'celerator
    - сцинтилляционный или пропорциональный
8) Какие базы данных по структурам необходимы?
    - PDF-2
    - PDF-4
    - структурная база данных
9) Щели:
    - программируемые
    - фиксированные
10) Требуется ли микродифракция?
 
Вы можете купить дифрактометр рентгеновскийX PERT PRO PANanalytical в Москве в нашей компании по лучшей цене

 

 

Яндекс.МетрикаTopListRambler's Top100Индекс цитирования